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芯硅谷 数显测厚表
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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MProbe NIR薄膜测厚仪
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪
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Amersham Typhoon NIR/NIR Plus近红外激光成像仪
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Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪MProbe 让 你 成 为 测 量 专 家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体
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显微反射膜厚仪MProbe MSP
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy
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碳硫赛默飞PROSIS™ 在线测厚系统简介
赛默飞 红外在线分析厚度传感器PROSIS™用于测定涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池,符合行业标准。适用厚度,克重,湿度项目。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统,用于在线测量连续生产的
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谱育科技EXPEC 1340 在线式近红外光谱分析仪(NIR)
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MS5100 多参数在线分析仪
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MS6100多参数在线分析仪
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